首页 > sci期刊> Surface Topography-Metrology and Properties期刊介绍(非官网)    时间:2025年04月18日 星期五
Surface Topography-Metrology and Properties

Surface Topography-Metrology and Properties Q2区

  • 期刊收录：
  • SCIE
  • Scopus
表面形貌计量与特性杂志
  • ISSN：

    2051-672X

  • 影响因子：

    2

  • 是否综述期刊：

    否

  • 是否预警：

    不在预警名单内

  • 是否OA：

    否

  • jcr分区：

    Q2区

  • 发刊时间：

    0

  • 发刊频率：

  • 中科院大类：

    材料科学

出版信息
  • 出版国家

    United Kingdom

  • 出版社：

    IOP Publishing Ltd.

  • 数据库：

    SCIE,Scopus

  • 年发文量：

    193

  • 国人发稿量：

    55.97

  • 自引率：

    -

  • 平均录取率:-
  • 平均审稿周期:-
  • 版面费:US$2930
  • 研究类文章占比98.45%
  • 被引用占比:10.48%
  • 偏重研究方向:Materials Science-Materials Chemistry
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期刊关键词

SCIEScopusENGINEERINGMECHANICALQ2材料科学3区工程：机械

期刊简介

An international forum for academics, industrialists and engineers to publish the latest research in surface topography measurement and characterisation, instrumentation development and the properties of surfaces.

一个学术界、工业家和工程师的国际论坛，发布表面形貌测量和表征、仪器开发和表面特性的最新研究成果。

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期刊官网投稿信息

分区信息

中科院分区（2023年12月最新升级版）
  • 大类学科
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  • 综述期刊
  • 材料科学
  • 3区
  • ENGINEERING
    MECHANICAL
    工程：机械
  • 4区
  • 否
  • 否
JCR分区、WOS分区等级：Q2
  • 版本
  • 按学科
  • 分区
  • WOS期刊SCI分（2022-2023年最新版）
  • ENGINEERING,MECHANICAL
  • Q2
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